Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能良好电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和**快脉冲 I-V曲线测量。
10 aA - 1A
0.2 µV - 210 V
电容-电压
(C-V) 范围
1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏置
±40 V (80 V p-p),±800 mA
200 MSa/s,5 ns 采样率
推进大胆发现**如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50%,从而实现**的测量和分析能力。此外,嵌入式测量专业知识提供**的测试指导,并让您对较终结果充满信息。
特点
用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件
立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
自动实时参数提取、数据绘图、分析函数
使用吉时利较新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利良好的 CVU 架构中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。
特点
同类产品中**能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
1 kHz 频率,分辨率从1 kHz 到 10 MHz
测量电容、电导和导纳
使用 4200A-CVIV 多路开关较多可测量四个通道
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换,*重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的时轻松排除故障。
特点
*重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块,您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择,可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块,Keithley 可确保您获得较准确的低电流测量,而停机时间很少甚至没有。
特点
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行 飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
探测器模式*移除命令即可实现调试
吉时利**计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或拨打一个电话即可获得服务,在此过程中,*报价或填写采购单,也不会有审批延误。
产品技术资料 | 型号 | 描述 | 价格 |
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查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS:参数主机 4201-SMU:两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA:一个预放大器 8101-PIV:一个带有采样装置的测试夹具 | |
查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS:参数主机 4201-SMU:两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA:一个预放大器 4215-CVU:一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV:一个带有采样装置的测试夹具 | |
查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS:参数主机 4201-SMU:两个用于高容量设置的中功率 SMU 4211-SMU:两个用于高容量设置的高功率 SMU 4200-PA:两个预放大器 4215-CVU:一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV:一个带有采样装置的测试夹具 | |
查看产品技术资料 | 4200-BTI-A **快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用尖端硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括: 1 个 4225-PMU **快 I-V 模块 2 个 4225-RPM 远程预放大器/开关模块 自动化检定套件 (ACS) 软件 **快 BTI 测试项目模块 布线 |